Teknik peperiksaan / Habibah Lehar

Lehar, Habibah (2000) Teknik peperiksaan / Habibah Lehar. Jurnal FAKULTAS: Jurnal Kolej Cempaka Kenanga (1). pp. 96-99. ISSN 1511-7472

Abstract

Tahukah anda mengapa sesetengah pelajar boleh mendapat gred yang baik dalam peperiksaan sementara sesetengah yang lain tidak mendapat gred yang baik meskipun telah menumpukan banyak masa dan usaha mengulangkaji pelajaran? Penulisan ini akan cuba memberikan sedikit pandangan yang dapat membantu para pelajar UiTM amnya dan para pelajar yang mengambil mata pelajaran ekonomi khasnya supaya dapat meningkatkan prestasi akademik dari masa ke semasa. Objektif utama sesuatu peperiksaan ialah untuk melihat kemampuan dan kebolehan seseorang pelajar memahami sesuatu tajuk tertentu. Tidak dapat dinafikan teknik-teknik asas persediaan peperiksaan penting difahami oleh semua pelajar UiTM. Pemahaman dan aplikasi teknik-teknik asas persediaan peperiksaan dapat meyakinkan pemeriksa bahawa pelajar memahami sepenuhnya sesuatu tajuk. Perlu diingatkan di sini ujian dan tugasan di UiTM adalah merupakan sebahagian daripada jumlah pemarkahan keseluruhan bagi mata pelajaran tersebut dan mesti dianggap penting. Bagi tujuan penulisan ini teknik peperiksaan dibahagikan kepada dua bahagian iaitu persediaan sebelum peperiksaan dan semasa peperiksaan.

Metadata

Item Type: Article
Creators:
Creators
Email / ID Num.
Lehar, Habibah
UNSPECIFIED
Subjects: L Education > LB Theory and practice of education > Educational tests and measurements > Malaysia
L Education > LG Individual institutions > Asia > Malaysia > Universiti Teknologi MARA
Divisions: Universiti Teknologi MARA, Shah Alam > Kolej Cempaka Kenanga
Journal or Publication Title: Jurnal FAKULTAS: Jurnal Kolej Cempaka Kenanga
ISSN: 1511-7472
Number: 1
Page Range: pp. 96-99
Keywords: Teknik Peperiksaan; Gred
Date: 2000
URI: https://ir.uitm.edu.my/id/eprint/16154
Edit Item
Edit Item

Download

[thumbnail of AJ_HABIBAH LEHAR FJKCK 00.pdf] Text
AJ_HABIBAH LEHAR FJKCK 00.pdf

Download (9MB)

ID Number

16154

Indexing

Statistic

Statistic details